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동시 측정용 3단계 와이핑 스위프 주파수 반응 분석기

제품 상세정보:

인증:	CE

상세 정보

인증:

모델 번호:

XHBX1501S

맞춤형:

맞춤형

상표:

XZH 테스트

원산지:

중국 시안

HS 코드:

854320100

공급 능력:

100 부분 /year

사용자 정의:

사용 가능

판매 후 서비스:

보증서

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제품 설명

XHBX1501S 트랜스포머 와일링 변형 검사기
SFRA 테스트 키트 트랜스포머(세 단계 동시 측정)

동시 측정용 3단계 와이핑 스위프 주파수 반응 분석기 0
제품 설명

트랜스포머 와일딩 변형 테스터에 기반한 트랜스포머 내부 결함에 대한 정확한 진단을 트랜스포머 와일링 내부의 특징적인 매개 변수 측정에 기초,선진국에서 개발하고 개선한 주파수 반응 분석 (FRA) 방법을 사용하여.
63kV-500kV 전력 트랜스포머의 내부 구조 결함 검출에 적용됩니다.

주요 특징

1테스트는 커버를 들어 올리지 않고 트랜스포머를 해체하지 않고 수행 할 수 있습니다.

2가장 인기있는 스파이프 측정 방법을 채택하십시오.

3이 장비는 6kV 이상의 트랜스포머를 측정할 수 있습니다

4. 그것은 분할 구조를 사용합니다, 테스트 호스트와 호스트 컴퓨터는 USB 또는 네트워크 연결에 의해 연결되었습니다, 그것은 플러그에있을 때 자유롭게 사용할 수 있습니다.

5필드 배선은 간단하고 사용하기 쉽습니다.

6-100dB ~ 20dB

7분석 소프트웨어는 강력하며 소프트웨어 및 하드웨어 지표는 국가 표준 DL/T911-2004을 충족합니다.

8선형 또는 로가리듬 분포를 사용하여 스웨이프 측정.

9응답 채널은 여러 범위를 가지고 있으며 측정 과정에서 범위를 자동으로 조정합니다. 동시 측정용 3단계 와이핑 스위프 주파수 반응 분석기 1

주요 기술 매개 변수

★ 스캔 모드:

선형 스캔 분포
스캔 측정 범위: (10Hz) - (10MHz) 40000 스캔 포인트, 해상도 0.25kHz, 0.5kHz 및 1kHz
세그먼트 주파수 스캔 측정 분포

주파수 스캔 측정 범위:
(0,5kHz) - ((1MHz)2000스캔 포인트;
(0.5kHz) ~ 10kHz)
(10kHz) ~ (100kHz)
(100kHz) ~ ((500kHz)
(500kHz) ~ 1000kHz

★ 다른 기술적 매개 변수:

진폭 측정 범위 (-120dB) ~ (+20dB)
진폭 측정 정확도: 0.1dB
스캔 빈도 정확도: 0.01%
신호 입력 임페던스: 1MΩ
시그널 출력 임페던스: 50Ω
신호 출력 진폭: ± 20V
테스트 반복 비율: 99.9%
측정 기기 크기 (LxWxH) 300X340X120 (mm)
기기의 알루미늄 상자 크기 (LxWxH) 310X400X330 (mm)
전체 무게: 13kg
작동 온도: -10oC ~ +40oC
저장 온도: -20oC ~ +70oC
상대 습도: <90%, 응고되지 않습니다.

동시 측정용 3단계 와이핑 스위프 주파수 반응 분석기 2

태그:

동시 측정용 3단계 와이핑 스위프 주파수 반응 분석기

★ 다른 기술적 매개 변수:

20A winding resistance tester,

DC winding resistance tester,

DC winding resistance meter

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