XHBX1501 트랜스포머 와이핑 변형 검사기는 내부 트랜스포머 와이핑 결함의 파괴적이지 않은 검출을 위한 국제적으로 인정된 방법인 주파수 반응 분석 (FRA) 을 사용합니다.완전히 DL/T911-2016에 적합, 이 도구는 기계적 변형, 이동,회전 간 단회로 포함 된 전기 장애단계 간 주파수 반응 곡선 (평면 분석) 과 역사적인 기준선 (직선 분석) 을 비교함으로써 XHBX1501은 유형, 위치,63kV에서 500kV의 전력 트랜스포머에서 오일 배수 또는 코어 해체를 요구하지 않고 와일링 이상의 심각성.
그 핵심, XHBX1501는 미국에서 공급 된 DDS (디지털 합성) 디지털 스웨이프 기술을 통해 구동되는 16 비트 듀얼 채널 고속 A / D 변환기를 갖추고 있습니다.10Hz에서 10MHz까지 0점 선형 주파수 스웨이.1dB 진폭 정확성. 내장 된 전문가 진단 시스템은 자동으로 4 개의 일관성 등급으로 윙 상태를 분류하고, 완전한 워드 형식 테스트 보고서를 생성합니다.그리고 동시적으로 추세 분석을 위해 최대 6개의 역사 곡선을 로딩하는 것을 지원합니다.USB, WiFi, 블루투스 연결을 통해, 장치는 최대한의 필드 유연성을 위해 윈도우 노트북, 안드로이드 태블릿, 스마트폰과 원활하게 결합됩니다.
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| 스파이 & 빈도 | |
|---|---|
| 주파수 범위 | 10Hz ~ 10MHz |
| 선형 스위프 포인트 | 401000 포인트 |
| 주파수 해상도 | 0.25kHz, 0.5kHz, 1kHz (선택 가능) |
| 세분화된 스파이 | 0.5kHz ~ 1MHz, 2,000 포인트 |
| 주파수 정확성 | 00.005% |
| 측정 정확성 | |
| 진폭 범위 | -120dB ~ +20dB |
| 진폭 정확성 | 00.1dB |
| 반복 가능성 | 990.9% |
| 입력 저항 | 1MΩ |
| 출력 저항 | 50Ω |
| 출력 폭 | ±20V (소프트웨어 조절) |
| 하드웨어와 연결성 | |
| 스웨이프 기술 | DDS 디지털 하이 스피드 (미국 출처) |
| A/D 변환기 | 16비트 듀얼 채널 고속 |
| 연결성 | USB, 와이파이, 블루투스 |
| 소프트웨어 플랫폼 | 윈도우/7/8/10 + 안드로이드 앱 |
| 진단 | |
| 탐지 유형 | 회전, 부풀이, 이동, 기울기, 회전 간 단회로, 단계 접촉 단회로 |
| 분석 방식 | 수평 (A/B/C) + 수직 (Before/After) + 전문가 자동 |
| 다 곡선 로딩 | 최대 6개의 역사 곡선 동시에 |
| 보고서 형식 | 컬러 프린팅으로 자동 워드 문서 |
| 측정 속도 | 1단계당 <60초, 트랜스포머당 <10분 |
| 운용 사양 | |
| 전원 공급 | AC 220V±10%, 50Hz |
| 작동 온도 | -10°C ~ 40°C |
| 저장 온도 | -20°C ~ 70°C |
| 상대 습도 | <90% (집화되지 않는) |
| 적용 가능한 트랜스포머 | 63kV ~ 500kV 전력 트랜스포머 |
| 물리적 사양 | |
| 크기 | 370 × 300 × 170mm |
| 무게 | 13kg |