XHBX1501 트랜스포머 와이핑 변형 테스트는 고급 사용주파수 반응 분석 (FRA)트랜스포머 내부 윙링 조건을 정확하게 평가하는 기술이 도구는 변형의 심각성을 결정하기 위해 굴곡 반응 변화를 정량화합니다., 변환기가 유지 보수 또는 수리를 필요로하는지 정확하게 평가 할 수 있습니다. 공장 바닥 도구로,그것은 트랜스포머의 전체 라이프 사이클 진단 전략을 고정하는 금 레퍼런스 FRA 지문을 설정.
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| 스파이프 주파수 범위 | 100Hz 2MHz |
| 진폭 측정 범위 | -100dB 20dB |
| 스캔 주파수 정확성 | 00.005% |
| 신호 출력 막장 | 50Ω |
| 신호 입력 장애 | 1MΩ |
| 신호 출력 폭 | ±10V 피크 (소프트웨어 조절) |
| A/D 샘플링 | 듀얼 채널 16비트 고속 |
| 테스트 속도 | 1~2분 1단계 윙 |
| 의사소통 | USB + Bluetooth 선택 |
| 크기 | 310 × 400 × 330 mm (알루미늄 케이스) |
| 준수 표준 | DL/T911-2004 |